单晶少子寿命测试仪该仪器参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；测试单晶电阻率范围：>0.3Ω.cm；

产品型号：JC03-LT-3

更新时间：2024-09-10

厂商性质：生产厂家

访问量：436

产品咨询 15313095671

产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

MK体育官网

制冷设备制样/消解设备过滤器切割机振荡器摇床进样器闪点试验器蒸馏设备粉碎机沥青检测仪显微镜运动粘度测定仪张力仪离心机混合计数研磨振筛机搅拌器箱/炉粘度恒温垂直度食品检测仪清洗硬度计/光度计天平油品

以下因素会影响食品安全检测仪器设备的检测结果

详细介绍在线留言

单晶少子寿命测试仪 硅单晶非平衡少数载流子寿命测量仪

型号JC03-LT-3

特点:

该仪器参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；

测试单晶电阻率范围：>0.3Ω.cm；

可测单晶少子寿命范围：1μS-10000μS；

配备光源类型：红外光源，波长：1.09μm；

余辉<1μS；闪光频率为：20-30次／秒；

前置放大器：放大倍数约25；

测量方式：采用对标准曲线读数方式；

单晶少子寿命测试仪 硅单晶非平衡少数载流子寿命测量仪

型号JC03-LT-3

特点:

该仪器参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；

测试单晶电阻率范围：>0.3Ω.cm；

可测单晶少子寿命范围：1μS-10000μS；

配备光源类型：红外光源，波长：1.09μm；

余辉<1μS；闪光频率为：20-30次／秒；

前置放大器：放大倍数约25；

测量方式：采用对标准曲线读数方式；

上一个：QT22-KGA3一氧化碳浓度检测仪

返回列表

下一个：HG04-KGW5数字式温度传感器

在线留言

单晶少子寿命测试仪该仪器参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；测试单晶电阻率范围：>0.3Ω.cm；

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：