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产品简介
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硅片缺陷观测仪 硅片划痕崩边测定仪 硅片位错层错检测仪
型号JC06-WDI
硅片缺陷观测仪于对硅片的缺陷进行观察，效果非常明显，包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等。
实时对图像进行分析、测量和统计，提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备，能更好的观测和保存研究结果；
硅片缺陷观测仪-产品特点
适用于对硅片的缺陷观察效果，非常明显，包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等；
使硅片缺陷观察工作简单化，准确化，同时极大程度降低此项工作强度；
实时对图像进行分析、测量和统计，提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备，能更好的观测和保存研究结果；
使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有体积小，技术*，像素较高， 成像清晰 、线条细腻、色彩丰富；
传输接口为 USB2.0 高速接口， 软件模块化设计 ；
有效分辨率为 200 万像素；
所配软件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系统。
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